エンベデッドシステムスペシャリスト 2018年 午前2 問04

JTAG（IEEE 1149.1）【午前2解説】

正解の理由

解法ステップ

1. JTAGが「ICや基板のテストに関する規格」であることを確認します。
2. JTAGの正式な規格番号であるIEEE 1149.1と、バウンダリスキャンを結び付けます。
3. テストプローブを使う方式や、回路内部で自己診断する方式と区別します。

選択肢別の誤答解説

• ア：組合せ回路のテスト生成方式
  誤りです。これは、回路の故障を検出するテストパターンを生成する技術の説明に近いものです。JTAG自体を指す説明ではありません。
• イ：テストプローブを用いた導通テストの方法
  誤りです。プローブを物理的に端子へ当てて検査する方法の説明です。バウンダリスキャンは、IC内部に設けた境界セルを利用して端子間の接続などを検査します。
• ウ：バウンダリスキャンテストの標準方式
  適切です。JTAG（IEEE 1149.1）は、バウンダリスキャンテストに関する標準規格です。
• エ：ビルトインセルフテストの方式
  誤りです。ビルトインセルフテスト（BIST）は、回路に組み込まれた機能でテストを実行する方式です。JTAGはBISTそのものではありません。

よくある誤解

• JTAGを、テスト装置やプローブそのものと考える
  JTAGはテストに使う標準規格であり、物理的なプローブの名称ではありません。
• JTAGとBISTを同じ方式だと考える
  JTAGはバウンダリスキャンの標準方式、BISTは回路内部の機能を使った自己テスト方式です。
• JTAGをソフトウェア開発専用の仕組みだと考える
  開発・デバッグにも利用されますが、基本的にはICや基板のテストに関係する規格です。

補足コラム

FAQ