基本情報技術者 2015年 春期 午前（科目A） 問49

バグ累積曲線の解釈【午前解説】

正解の理由

解法ステップ

1. 軸ラベルを確認：縦はバグ累積件数、横はテスト項目消化件数。
2. 破線の意味を確認：横破線が「バグ累積件数の目標値」、縦破線が「テスト消化数X」を示す。
3. 曲線の形を観察：右側で平坦化（傾きが小さい）しているかを確認する。
4. 傾き＝検出率と読み替える：傾きが小さいと新たなバグ検出が減少し、未検出バグの存在が示唆される。
5. 選択肢と照合：検出数が目標に達しただけでは残留バグの有無は判断できないため「まだ内在バグがある可能性」を選ぶ。

選択肢別の誤答解説

• ア: テスト工程が順調に終了したことを示す。
  → 誤り。図は「工程の進捗」自体は示すが、順調に終了したか（品質目標やカバレッジ達成か）は分からない。順調＝問題なしとは限らない。
• イ: テスト前段階での机上チェックやシミュレーションが十分にされていることを示す。
  → 誤り。図からは事前のレビューやシミュレーションの有無は判断できない。累積バグの検出推移のみを示す。
• ウ: まだ多くのバグが内在している可能性がある。
  → 正解（ウ）。累積曲線の平坦化は検出率低下を示し、未検出の欠陥が残る可能性を示唆する。
• エ: 目標のバグ累積件数が達成されたので、出荷後にバグが発生する確率が低いことを示す。
  → 誤り。目標達成は検出された欠陥数の目標であり、テスト範囲や残留欠陥の存在は別に評価する必要がある。

よくある誤解

• 目標の累積バグ数に到達＝品質確保完了と考える誤り：到達は検出数の目標達成であり、残留バグの有無は別評価です。
• 曲線が止まる＝バグがゼロと誤解：曲線平坦化は検出率低下を示すだけで、未発見のバグが残る可能性があります。
• 目標到達で出荷リスクが低いと短絡判断する誤り：テスト範囲や重要クリティカルパスの欠陥有無を確認する必要があります。

補足コラム

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