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基本情報技術者 2015年 春期 午前(科目A) 問49


問題文

図は、テスト項目消化件数において、目標値として設定したバグ累積件数に到達したことを示す。この図の状況の説明として、適切なものはどれか。
基本情報技術者 2015年 春期 午前(科目A) 問49の問題画像

選択肢

ア:テスト工程が順調に終了したことを示す。
イ:テスト前段階での机上チェックやシミュレーションが十分にされていることを示す。
ウ:まだ多くのバグが内在している可能性があることを示す。(正解)
エ:目標のバグ累積件数が達成されたので、出荷後にバグが発生する確率が低いことを示す。

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バグ累積曲線の解釈【午前解説】

正解の理由

正解: ウ
図の累積バグ件数の曲線は下に凸で、テスト項目を消化するほど傾きが急になっています。つまり、テスト件数Xで目標値に達した時点でも、バグの見つかる勢い(曲線の傾き)は衰えるどころか増しており、頭打ちになっていません。品質が安定してくると新たなバグが見つかりにくくなり、曲線は寝てくる(上に凸になって平坦に近づく)のが普通です。この図はその逆なので、「まだ多くのバグが内在している可能性がある(ウ)」が適切です。

解法ステップ

  1. 軸ラベルを確認:縦はバグ累積件数、横はテスト項目消化件数。
  2. 破線の意味を確認:横破線が「バグ累積件数の目標値」、縦破線が「テスト消化数X」を示す。
  3. 曲線の形を観察:右側で平坦化しているか、逆に急になっているかを確認する。この図は右へ行くほど急になっている。
  4. 傾き=バグの検出の勢いと読み替える:傾きが大きいまま(増え続けている)なら、バグは収束しておらず、まだ多く残っていると考えられる。
  5. 選択肢と照合:目標件数に達しただけでは品質は判断できず、曲線が収束していないので「まだ内在バグがある可能性」を選ぶ。

選択肢別の誤答解説

  • ア: テスト工程が順調に終了したことを示す。
    → 誤り。図は「工程の進捗」自体は示すが、順調に終了したか(品質目標やカバレッジ達成か)は分からない。順調=問題なしとは限らない。
  • イ: テスト前段階での机上チェックやシミュレーションが十分にされていることを示す。
    → 誤り。図からは事前のレビューやシミュレーションの有無は判断できない。累積バグの検出推移のみを示す。
  • ウ: まだ多くのバグが内在している可能性がある。
    → 正解(ウ)。累積曲線が右へ行くほど急になっており、バグの検出が収束していないので、未検出の欠陥が多く残る可能性を示す。
  • エ: 目標のバグ累積件数が達成されたので、出荷後にバグが発生する確率が低いことを示す。
    → 誤り。目標達成は検出された欠陥数の目標であり、テスト範囲や残留欠陥の存在は別に評価する必要がある。

よくある誤解

  • 目標の累積バグ数に到達=品質確保完了と考える誤り:到達は検出数の目標達成であり、残留バグの有無は別評価です。
  • 曲線の形を見ずに件数だけで判断する誤り:同じ件数でも、曲線が平坦に近づいていれば収束に向かっており、本問のように急になっていればバグが次々に見つかっている状態で、意味がまったく異なります。
  • 目標到達で出荷リスクが低いと短絡判断する誤り:テスト範囲や重要クリティカルパスの欠陥有無を確認する必要があります。

補足コラム

累積バグ曲線は「欠陥検出率の時間変化」を直感的に示す重要な図です。信頼度成長モデル(例:Goel-Okumoto、Jelinski–Moranda)では、早期は検出率が高く次第に低下することで、残留欠陥の推定やテスト終了基準の設定に利用されます。実務では累積件数だけでなく、テストカバレッジ、重要度別欠陥分布、クリティカル機能の未検証部分を合わせて判断します。目標値は管理上の閾値であって、品質保証の最終判断基準ではありません。

FAQ

Q1: 累積バグ数が目標に達していれば出荷してよいですか?
A1: 目標達成は一つの判断材料ですが、テストカバレッジや重大欠陥の有無、リスク許容度を総合評価して出荷判断を行うべきです。
Q2: 本問のような曲線のとき、どう対処すべきですか?
A2: バグが収束していないので、テストを打ち切らずに継続し、バグの多い機能や原因(設計の誤り、レビュー不足など)を分析して重点的にテスト・レビューを追加します。曲線が平坦に近づくのを確認してから終了を判断します。
Q3: 残留欠陥数をどう推定すればよいですか?
A3: 信頼度成長モデルやキャプチャ・リキャプチャ法、ベイズ推定などを利用し、過去データから残留欠陥数を統計的に推定します。実務では定性的評価も併用します。

関連キーワード: バグ累積曲線、バグ検出率、残留欠陥数、テストカバレッジ、信頼度成長モデル、テスト終了基準、欠陥密度
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