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プロジェクトマネージャ 2018年 午後1 問02


システム開発プロジェクトの品質管理に関する次の記述を読んで、設問1~3に答えよ。

 K社はSI企業である。K社のL課長は、これまで多くのシステム開発プロジェクトを経験したプロジェクトマネージャ(PM)で、先日も生命保険会社の新商品に対応したスマートフォンのアプリケーションソフトウェアの開発(以下、前回開発という)を完了したばかりである。  K社の品質管理部門では、品質管理基準(以下、K社基準という)として、工程ごとに、レビュー指摘密度、摘出欠陥密度などの指標に関する基準値を規定している。L課長もK社基準に従った品質管理を行ってきた。前回開発においても、各工程の“開発プロセスの品質”(以下、プロセス品質という)と、各工程完了段階での“成果物の品質”(以下、プロダクト品質という)は、定量評価においてはK社基準に照らして基準値内の実績であり、定性評価を含めて、全工程を通じておおむね安定的に推移した。稼働後にも欠陥は発見されていない。  しかし、新たなサービスを市場に適切に問い続けていきたいという顧客のニーズに応えるためには、第1段階として設計・製造工程で品質を確保する活動を進め、第2段階として設計そのものをより良質にしていく必要があると考えていた。そこでL課長はまず、前回開発の実績値を基にして、設計・製造工程で品質を確保する活動に資する新しい品質管理指標の可能性について検討することにした。   〔L課長の認識〕  L課長は、前回開発を含む過去のプロジェクトの経験や社内の事例から、品質管理について、次のような認識をもっていた。  ・最終的なプロダクト品質は、“設計工程における成果物から、その成果物に内包される欠陥を全て除去した品質”(以下、設計限界品質という)で、おおむねその水準が決まる。製造工程とテスト工程においても設計の修正は行われるが、そのほとんどは設計の欠陥の修正にとどまり、より良質な設計への改善につながるケースはまれである。つまり、①テスト工程からでは、最終的なプロダクト品質を大きく向上させることはできない。この設計限界品質が低い場合には、システムのライフサイクル全体に悪影響を及ぼすことがある。したがって、設計限界品質そのものを高めることが、本質的に重要である。  ・K社の過去の事例を分析すると、全工程を通算した総摘出欠陥数は、開発規模と難易度が同等であれば近似する値となっている。ただし、設計工程での欠陥の摘出が不十分な場合には、開発の終盤で苦戦し、納期遅れとなったり、納期遅れを計画外のコスト投入でリカバリするような状況が発生したりしていた。これは、設計工程完了時点で、設計限界品質と実際のプロダクト品質との差が大きい状況であった、と言い換えることができる。  ・現在のK社基準に規定されている工程ごとの摘出欠陥密度の基準値には、複数の工程で混入した欠陥が混ざっている。そのため、②工程ごとの摘出欠陥密度だけを見て評価すると、ある状況の下では品質に対する判断を誤り、品質低下の兆候を見逃すリスクがある。   〔新しい品質管理指標〕  L課長は、新しい品質管理指標を検討するに当たって、次のように考えた。  ・欠陥は、混入した工程で全て摘出することが理想である。特に設計・製造の各工程で、十分に欠陥を摘出せずに後工程に進むと、後工程の工数を増大させる要因となり、最終的にプロジェクトに悪影響を及ぼす可能性がある。  ・テスト工程は、工程が進むにつれ、それよりも前の工程と比較して制約が厳しくなっていく要素があるので、仮に予算、人員及びテスト環境に一定の余裕があったとしても、③製造工程までに混入した欠陥の摘出・修正ができなくなるリスクが高まる。したがって、テスト工程よりも前の工程でプロダクト品質を確保するための指標を検討すべきである。  ・今回の検討では、設計限界品質そのものを高めるという最終目標の前段階として、テスト工程よりも前の工程において、設計限界品質に対する到達度を測定する指標を検討する。  ・指標を考えるに当たって、当初はモデルを単純にするために、基本設計よりも前の工程やテスト工程で混入する欠陥及び稼働後に発見される欠陥は、対象外とする。  ・まず、設計・製造の各工程について、自工程で混入させた欠陥を自工程でどれだけ摘出したか、という観点で“自工程混入欠陥摘出率”の指標を設ける。  ・次に、設計・製造の各工程において、基本設計工程から自工程までの工程群で混入させた欠陥を、自工程完了までにどれだけ摘出したか、という観点で“既工程混入欠陥摘出率”の指標を設ける。この指標は、自工程までの工程群の、品質の作り込み状況を判断するための指標となる。  ・これら二つの指標は、④テスト工程を含む全工程が完了しないと確定しないパラメタを含んでいる。したがって、各工程完了時点でこれらの指標を用いて評価する際には、そのパラメタが正しいと仮定した上での評価となる点に、注意が必要となる。  L課長は、検討した新しい品質管理指標を、表1のとおりに整理した。
プロジェクトマネージャ試験(平成30年 午後1 問2 表1)
〔前回開発の欠陥の摘出状況〕  L課長は、前回開発における工程ごとの欠陥の摘出状況を、表2のとおりに整理した。
 L課長はまず、基本設計、詳細設計及び製造の各工程で混入した欠陥のうち、自工程で摘出できなかった欠陥について、摘出工程を精査した。特に、テスト工程まで摘出が遅れて、対処のコストを要した欠陥について、予防のコストを掛けていればテスト工程よりも前の工程で摘出できたのではないか、という⑤品質コストの観点からの精査を行った。その結果は、一部の欠陥を除いて、品質コストに関する大きな問題はないという評価であった。次に、テスト工程で摘出することがスケジュールに与えた影響を評価した。これら二つの評価結果を総合して、これらの欠陥がテスト工程で摘出されたことには大きな問題はなかったと判断した。  その上でL課長は、過去の事例から、表3に示すα群、β群に該当するプロジェクトを抽出した。
プロジェクトマネージャ試験(平成30年 午後1 問2 表3)
 L課長は、これら二つのプロジェクト群に対して、前回開発と同様に新しい品質管理指標による定量分析を行い、aを確認した。分析の結果によってL課長は、新しい品質管理指標の有効性に自信を深めることができたので、この活動を更に進めていこうと考えた。そこでL課長は、次の二つの条件を満たすプロジェクトを抽出し、これらのプロジェクトにおける新しい品質管理指標の定量分析の結果から、次回の開発における新しい品質管理指標の目標値を設定した。  ・α群に含まれる  ・開発規模と難易度が、次回の開発と同等である  そして新しい品質管理指標が、設計・製造工程で品質を確保するという目的に対して有効に機能するかどうかを、次回の開発において検証することにした。

設問1:〔L課長の認識〕について、(1)、(2)に答えよ。

設問1(1)

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本文中の下線①について、L課長の認識では、テストとはプロダクト品質をどのようにする活動だと考えているのか。20字以内で述べよ。

模範解答

設計限界品質に近づける活動

解説

解答の導き方

  1. 本文では、設計工程の成果物に含まれる欠陥を全て取り除いた品質を「設計限界品質」としています。これは、設計によっておおむね決まる、最終的なプロダクト品質の到達水準です。
  2. 一方、製造工程やテスト工程で設計を修正することはあっても、その多くは設計の欠陥を直すものであり、「より良質な設計への改善につながるケースはまれ」とあります。つまり、テスト工程で設計限界品質そのものを大きく引き上げるのは難しいということです。
  3. したがって、テスト工程は、欠陥を見つけて修正し、実際のプロダクト品質を設計で定まった水準に近づける活動だと考えられます。

誤りやすいポイント

  • テスト工程が、設計そのものをより良質にして設計限界品質を高める活動だと捉えることです。本文では、そのような改善につながるケースはまれだとしています。
  • 「欠陥を摘出する活動」とだけ答えると、設問が尋ねるプロダクト品質との関係が示されません。欠陥の修正によって、品質をどの水準に近づけるのかまで押さえます。
  • 「プロダクト品質を向上させる活動」とだけ述べると、設計限界品質という到達水準が抜けてしまいます。

FAQ

Q: 設計限界品質とは何ですか?
A: 設計工程の成果物に含まれる欠陥を全て取り除いたときに得られる品質です。
Q: テスト工程でプロダクト品質を改善できないという意味ですか?
A: いいえ。欠陥を摘出・修正して品質を改善できますが、設計限界品質そのものを大きく高めることは難しい、という意味です。
Q: なぜ設計限界品質に近づけるのですか?
A: 欠陥を取り除くことで、設計時点で定まっていた品質の到達水準に、実際のプロダクト品質を近づけるためです。

関連キーワード: 設計限界品質、プロダクト品質、欠陥摘出、テスト工程

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設問1(2)

問題文を見る
本文中の下線②について、品質に対する判断を誤るようなある状況とはどのような状況か。35字以内で述べよ。

模範解答

自工程よりも前の工程群での欠陥摘出が不十分だった状況

解説

解答の導き方

  1. 問われているのは、工程ごとの摘出欠陥密度だけで評価すると、品質の判断を誤る状況です。ここでは、欠陥が「どの工程で摘出されたか」と「どの工程で混入したか」を区別して考えます。
  2. 本文では、工程ごとの摘出欠陥密度の基準値には「複数の工程で混入した欠陥が混ざっている」と説明されています。つまり、ある工程で摘出した欠陥の数だけを見ても、その欠陥が自工程で混入したのか、それ以前の工程で混入したのかは分かりません。
  3. そのため、自工程より前の工程群で欠陥を十分に摘出できていないと、未摘出の欠陥が後工程に持ち越されます。後工程の摘出欠陥密度だけでは、欠陥の発生元や、それ以前の工程で摘出が不足していたことを適切に判断できないおそれがあります。
  4. 新しい指標として、基本設計工程から自工程までに混入した欠陥を対象とする「既工程混入欠陥摘出率」を設けているのも、こうした工程間の持ち越しを把握するためです。したがって、判断を誤る状況は、自工程よりも前の工程群で欠陥の摘出が不十分だった状況です。

誤りやすいポイント

  • 摘出欠陥密度を、欠陥が混入した工程ごとの数だと誤解しないようにします。これは、各工程で摘出された欠陥数を基にした指標です。
  • 後工程で摘出欠陥が多い場合、後工程だけの問題とは限りません。それ以前の工程で混入した欠陥が持ち越されている可能性があります。
  • 「自工程で摘出できたか」と「前工程までに混入した欠陥をどこまで摘出できたか」は別の観点です。工程ごとの密度だけでは、後者を正確に捉えにくい点がポイントです。

FAQ

Q: 摘出欠陥密度が基準値内なら、品質上の問題はないと判断できますか。
A: 必ずしもそうとは限りません。摘出された欠陥の混入工程が区別されていない場合、前工程から持ち越された欠陥の影響を見落とすことがあります。
Q: 「既工程混入欠陥摘出率」は何を把握する指標ですか。
A: 基本設計工程から自工程までに混入した欠陥を、自工程の完了までにどれだけ摘出できたかを把握する指標です。
Q: 摘出欠陥が少ない工程は、品質が良いと考えてよいですか。
A: 少ないという結果だけでは判断できません。欠陥が少なかったのか、あるいは欠陥を十分に摘出できなかったのかを区別する必要があります。

関連キーワード: 欠陥摘出密度、欠陥混入工程、品質指標、プロセス品質、プロダクト品質

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設問2:〔新しい品質管理指標〕について、(1)、(2)に答えよ。

設問2(1)

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本文中の下線③について、L課長はなぜ、製造工程までに混入した欠陥の摘出・修正ができなくなるリスクが高まると考えたのか。35字以内で述べよ。

模範解答

・テスト工程は納期に近く、時間の余裕が少ないから ・テスト工程は時間の制約で、手戻りをリカバリする余裕が少ないから

解説

解答の導き方

  1. 問われているのは、製造工程までに混入した欠陥を、後のテスト工程で摘出・修正できなくなるリスクが高まる理由です。
  2. 本文では、テスト工程は「工程が進むにつれ」、前の工程よりも制約が厳しくなると説明されています。ここで着目するのは、予算や人員、テスト環境とは別に、工程が進むほど納期までの残り時間が短くなることです。
  3. 欠陥を発見した後は、修正だけでなく、修正が正しく行われたことを確認する作業も必要です。テスト工程で欠陥が見つかると、これらの作業に使える時間が限られ、手戻りを完了できない可能性が高まります。
  4. したがって、テスト工程は納期に近く、修正や再確認に充てられる時間の余裕が少ないことが、リスクが高まる理由です。

誤りやすいポイント

  • 予算、人員、テスト環境に余裕があれば問題ない、と考えることです。本文が示す制約は、それらの資源だけでは解消できない時間の制約です。
  • 欠陥を摘出できるかどうかだけに注目し、摘出後の修正や確認に必要な時間を見落とすことです。
  • 「工程が進むほど制約が厳しい」という記述を、テスト環境や人員の不足だけを指すものと捉えることです。納期までの時間の余裕が減る点が重要です。

FAQ

Q: 人員や予算に余裕があっても、なぜ欠陥を修正できないことがあるのですか?
A: 欠陥の修正と確認を終えるまでの時間が、納期までに確保できないことがあるためです。
Q: 欠陥をテスト工程で見つければ、修正すればよいのではありませんか?
A: 修正後に、影響がないことを再確認する必要があります。残り時間が少ないと、この一連の作業を完了できない可能性があります。

関連キーワード: 品質管理、欠陥摘出、手戻り、納期、テスト工程

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設問2(2)

問題文を見る
本文中の下線④について、テスト工程を含む全工程が完了しないと確定しないパラメタとは何か。15字以内で述べよ。

模範解答

・混入工程ごとの総欠陥数 ・指標における分母

解説

解答の導き方

  1. 表1では、二つの指標の分母が、いずれも対象の工程群で「混入させた欠陥数」になっています。つまり、ある時点までに摘出した欠陥数ではなく、その工程群で最終的に何件の欠陥が混入していたかを表す値です。
  2. たとえば、(a)自工程混入欠陥摘出率の詳細設計工程の計算では、分母は「詳細設計工程で混入させた欠陥数」です。詳細設計工程で見つからず、後の製造工程やテスト工程で見つかる欠陥も、この分母に含めなければなりません。
  3. (b)既工程混入欠陥摘出率では、基本設計工程と詳細設計工程で混入させた欠陥が対象です。これらの工程で摘出されず、後工程で初めて発見された欠陥も含めて、対象工程群で混入した欠陥の総数を確定する必要があります。
  4. したがって、各工程の完了時点では、後工程で発見される欠陥がまだ分からず、分母を正確には確定できません。テスト工程まで含めた全工程が完了して、欠陥を混入工程ごとに集計して初めて、「混入工程ごとの総欠陥数」が確定します。この値が指標の分母に使われるため、分母は確定前には仮定に基づくパラメタになります。

誤りやすいポイント

  • 分母を「その工程で摘出した欠陥数」と取り違えないようにします。摘出した欠陥数は、分子に関係する値です。
  • 自工程で見つからず、後工程で見つかった欠陥も、その欠陥を混入させた工程の総欠陥数には含まれます。
  • 「工程完了時点までに分かった欠陥数」と「その工程で最終的に混入していた欠陥数」は異なります。後者は、後工程での摘出状況が判明するまで確定しません。

FAQ

Q: 自工程で摘出した欠陥数だけでは、分母を計算できないのですか?
A: できません。自工程で見つからず、後工程で発見された欠陥も、分母に含める必要があるためです。
Q: 全工程の完了を待たずに指標を使う場合は、どう考えますか?
A: 本文にあるとおり、分母に当たるパラメタが正しいと仮定して評価します。したがって、その時点での評価は確定値ではなく、仮定に依存します。
Q: 分母が確定するのは、なぜテスト工程の完了後なのですか?
A: 前工程で混入した欠陥が、テスト工程まで発見されないことがあるからです。テスト工程での摘出結果を反映して、混入工程ごとの総数を確定します。

関連キーワード: 欠陥管理、品質指標、欠陥摘出率、工程品質、定量評価

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設問3:〔前回開発の欠陥の摘出状況〕について、(1)~(3)に答えよ。

設問3(1)

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表2中の(イ)、(ロ)に入れる適切な数値を求めよ。答えは百分率の小数第2位を四捨五入して小数第1位まで求め、99.9%の形式で答えよ。

模範解答

イ:50.2 ロ:58.0

解説

解答の導き方

求めるのは、表2の製造工程における「(a)自工程混入欠陥摘出率」と「(b)既工程混入欠陥摘出率」です。表1の定義に従い、それぞれ分子と分母を表2から読み取ります。
まず、(a)自工程混入欠陥摘出率は、「自工程で混入させた欠陥」のうち「自工程で摘出した欠陥」の割合です。製造工程で混入した欠陥は、表2の製造工程の行の総欠陥数である285件です。そのうち製造工程で摘出した欠陥は、同じ行の製造列にある143件です。
したがって、計算は次のとおりです。
百分率の小数第2位を四捨五入して小数第1位までにすると、(イ)は50.2%です。
次に、(b)既工程混入欠陥摘出率は、「基本設計工程から自工程までの工程群で混入させた欠陥」のうち、「自工程完了までに摘出した欠陥」の割合です。製造工程の場合、分母には基本設計、詳細設計、製造の各工程で混入した欠陥を含めます。表2の各行の総欠陥数を合計すると、分母は109件+192件+285件=586件です。
分子は、これらの工程で混入した欠陥のうち、製造工程の完了までに摘出した欠陥です。つまり、混入工程が基本設計、詳細設計、製造の各行について、摘出工程が基本設計、詳細設計、製造の各列にある数を合計します。
  • 基本設計で混入した欠陥:61件+18件+8件
  • 詳細設計で混入した欠陥:101件+9件
  • 製造で混入した欠陥:143件
分子は合計340件となり、計算は次のとおりです。
小数第1位までにすると、(ロ)は58.0%です。単体テスト以降に摘出した欠陥は、製造工程の完了時点ではまだ摘出されていないため、この分子には含めません。

誤りやすいポイント

  • (イ)の分母を、製造工程で摘出された欠陥の総数160件にしないようにします。分母は、製造工程で混入した欠陥の総数285件です。
  • (イ)の分子には、製造工程で混入した欠陥のうち、製造工程で摘出した143件だけを使います。後工程で摘出された欠陥は含めません。
  • (ロ)は、製造工程で混入した欠陥だけを対象にする指標ではありません。基本設計、詳細設計、製造の各工程で混入した欠陥が対象です。
  • (ロ)の分子には、製造工程の完了までに摘出した欠陥だけを含めます。単体テスト、結合テスト、総合テストで摘出した欠陥は含めません。

FAQ

Q: (ロ)の分母が586件になるのはなぜですか?
A: 基本設計、詳細設計、製造の各工程で混入した欠陥を合計するためです。表2の各工程の総欠陥数である109件、192件、285件を合計します。
Q: (ロ)の分子に、基本設計工程で摘出した欠陥も含めるのですか?
A: 含めます。既工程混入欠陥摘出率は、基本設計工程から自工程までの工程群で混入した欠陥について、自工程完了までに摘出できた割合だからです。
Q: 計算結果の端数はどのように処理しますか?
A: 問題の指示どおり、百分率の小数第2位を四捨五入し、小数第1位までにします。

関連キーワード: 欠陥摘出率、欠陥混入工程、欠陥摘出工程、品質管理指標、百分率の丸め

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設問3(2)

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本文中の下線⑤について、テスト工程まで摘出が遅れても、品質コストに関する大きな問題がないと判断されるのは、どのようなケースか。30字以内で述べよ。

模範解答

対処のコストが、予防のコスト以下であったケース

解説

解答の導き方

  1. 問題文では、テスト工程まで摘出が遅れた欠陥について、「予防のコストを掛けていればテスト工程よりも前の工程で摘出できたのではないか」という視点で確認しています。つまり、早い工程で摘出するために必要だった費用と、テスト工程で摘出した後に対処する費用を比較します。
  2. その比較で、テスト工程で摘出した後の対処にかかる費用が、早期摘出のために必要な予防の費用以下であれば、早期に摘出するために追加の費用をかけるよりも、テスト工程で対処する方が費用面で不利とはいえません。
  3. したがって、品質コストに関する大きな問題がないと判断されるのは、対処のコストが予防のコスト以下であったケースです。

誤りやすいポイント

  • テスト工程で欠陥が見つかったことだけを理由に、品質コスト上の問題があると判断しないようにします。問われているのは、欠陥の摘出時期そのものではなく、対処のコストと予防のコストの比較です。
  • 「予防のコストが対処のコスト以下」と、比較の向きを逆にしないようにします。
  • 品質コスト上の問題がないことは、納期や進捗にも問題がないことを意味しません。問題文では、品質コストとは別に、スケジュールへの影響も評価しています。

FAQ

Q: ここで比較する「対処のコスト」とは何ですか?
A: テスト工程で欠陥を摘出した後、その欠陥に対応するために必要となる費用です。
Q: 対処のコストと予防のコストが同じ場合も、問題がないと判断できますか?
A: はい。「対処のコストが予防のコスト以下」という条件には、両者が同じ場合も含まれます。
Q: 品質コスト上の問題がなければ、テスト工程で多くの欠陥が見つかっても問題ありませんか?
A: そうとは限りません。品質コストの評価とは別に、欠陥対応による納期や進捗への影響も確認する必要があります。

関連キーワード: 品質コスト、予防コスト、対処コスト、欠陥摘出、テスト工程

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設問3(3)

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本文中のaに当てはまる、L課長が確認した内容を、35字以内で具体的に述べよ。

模範解答

a:・α群に関する新しい品質管理指標の数値が、β群よりも高いこと  ・両群について、新しい品質管理指標の結果に有意な差があること

解説

解答の導き方

  1. まず、aで問われているのは、α群とβ群を新しい品質管理指標で分析した結果、L課長が何を確認したかです。単に指標の数値を算出したというだけでなく、その結果から指標が有効かどうかを判断するため、両群の違いに注目します。
  2. α群は、K社基準による評価が全工程を通じて安定し、最終的なプロダクト品質も良好で、進捗も順調なプロジェクト群です。一方、β群は、テストの一部の工程で欠陥の摘出が多く、納期遅れや計画外のコスト投入が起きたプロジェクト群です。最終的なプロダクト品質は両群とも良好、又は若干の課題があるものの良好ですが、進捗状況には違いがあります。
  3. 新しい指標は、設計・製造の工程で混入した欠陥を、できるだけ早い工程でどれだけ摘出できたかを表します。したがって、プロジェクトが安定して進んだα群では、テスト工程で欠陥の摘出が集中したβ群よりも、欠陥摘出率が高くなることが期待されます。この比較によって、指標が両群の特徴を区別できるかを確かめられます。
  4. ただし、α群の数値がβ群より高いというだけでは、その差が偶然のばらつきによる可能性も残ります。指標の有効性を確認するには、両群の数値に統計的に意味のある差があることも確かめる必要があります。したがって、L課長が確認した内容は、α群の新しい品質管理指標の数値がβ群より高く、両群の結果に有意な差があることです。

誤りやすいポイント

  • α群とβ群の最終的なプロダクト品質だけを比べてしまうことです。本文では、両群とも最終的なプロダクト品質は良好、又は若干の課題があるものの良好とされています。ここで着目するのは、新しい指標の数値の違いです。
  • 「α群の数値がβ群より高い」だけで十分と考えることです。標本のばらつきなどによる偶然の差ではないと判断するため、両群に有意な差があることも確認します。
  • β群でテスト工程の欠陥摘出が多かったことから、β群の最終品質が悪いと決めつけることです。β群の問題として示されているのは、主に進捗やリカバリの状況です。
  • 新しい指標を、欠陥の総数を比べる指標と取り違えることです。ここで扱うのは、自工程や既工程までに混入した欠陥を、どれだけ早く摘出したかを表す割合です。

FAQ

Q: なぜ、α群の指標の数値が高いことを期待できるのですか?
A: α群は全工程を通じて順調だった一方、β群ではテスト工程で多くの欠陥が摘出されています。設計・製造の段階で欠陥を摘出できているほど、新しい指標の数値は高くなると考えられるためです。
Q: 数値に差があれば、指標の有効性を確認できたといえますか?
A: 数値の差が偶然のばらつきで生じる可能性もあるため、それだけでは不十分です。両群の結果に有意な差があることも確認します。
Q: 最終的なプロダクト品質が両群とも良好なのに、指標を比較するのはなぜですか?
A: 最終品質だけでは、設計・製造工程で品質を作り込めたか、テスト工程で欠陥への対処が集中したかを区別しにくいためです。新しい指標で、進捗や欠陥摘出の状況の違いを捉えられるかを確かめます。

関連キーワード: 品質管理指標、欠陥摘出率、品質評価、統計的有意差、品質の作り込み

解説を読んでも分からないところは、AIに質問できます。 この問題の本文と解説をふまえて答えます。

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